2017年7月15日土曜日

富山大病院・鈴木教授らのグループが発表「脳のしわが複雑に入り組みすぎていると統合失調症の発症リスクが高い可能性」

脳のしわ複雑だと高リスク　統合失調症、富山大など

2017/7/11 19:16

脳のしわが複雑に入り組みすぎていると統合失調症の発症リスクが高い可能性があることを明らかにしたと、富山大病院の鈴木道雄教授（精神神経科学）らのグループが11日付の米医学誌電子版に発表した。東京大、東北大などとの共同研究。

統合失調症は、幻覚や妄想などさまざまな症状を伴う精神疾患。早期の発見、治療が有効とされ、グループは「統合失調症の早期診断につながる一歩になれば」と期待している。

グループは、発症リスクが高いとされる104人と、健常者104人について、脳のMRIのデータを収集。発症リスクが高い人の方が、大脳皮質の広い範囲でしわが複雑に入り組んでいた。

参照元 ： 共同通信

後頭葉の脳回形成の変化が統合失調症発症を予測することを解明

2017年7月12日 09:00

富山大学附属病院神経精神科の笹林大樹助教、同大学大学院医学薬学研究部（医学）神経精神医学講座の鈴木道雄教授らのグループは、東京大学大学院医学系研究科精神医学分野の笠井清登教授、東邦大学医学部精神神経医学講座の水野雅文教授、東北大学大学院医学系研究科精神神経学分野の松本和紀准教授らと共同で、「統合失調症の発症高リスク群のうち、のちに発症する群は、発症しない群と比較して、左後頭葉の脳回の過形成を示す」ことを世界で初めて明らかにしました。この知見は、統合失調症の発症メカニズムの解明や早期診断法の開発に繋がる可能性があります。

今回の研究成果は、7月11日に米国科学誌「Biological Psychiatry」にオンライン掲載されました。

ポイント

典型的な統合失調症の症状を発症する前段階と考えられる症例（発症高リスク群）を対象に、磁気共鳴画像（MRI）を用いて、大脳皮質の脳回形成（大脳皮質表面の入りくみ具合）を調べた。

発症高リスク群には、健常対照群と比較して、広範囲な大脳皮質領域において脳回過形成がみられ、胎生期の神経発達の変化を示すと考えられた。 発症高リスク群のうち、のちに統合失調症などを発症した群は、発症しなかった群と比較して、左後頭皮質の脳回過形成を示し、この所見はのちの発症を予測する変化と考えられた。

本研究の知見は、統合失調症の発症メカニズムの解明や早期診断法の開発につながる可能性がある。

参照元 ： 東北大学

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